Applied ML seminars – Anomaly detection (אירוע)

אני שמח להזמין אתכם לאירוע השני שלנו בסדרת Applied ML seminars שנעשים בשיתוף עם Applied Materials (לינק לאירוע הראשון). בכל אירוע מסוג זה, ניקח נושא אחד שמעניין את הקהילה ונדבר עליו בהרחבה מכמה זוויות שונות. לאירוע הראשון בחרנו לדבר על נושא שלא מעט מחברי הקהילה עוסקים בו: Anomaly detection. באירוע נדבר על גישות שונות למודלים בתחום ונשמע הרצאות משני דוברים בנושא.

האירוע יתקיים ב-16.2 בשעה 17:00

הרצאה ראשונה:

Speaker: Jonathan Laserson, Lead AI Strategist at Zebra Medical Vision

Title: "Augmentation is all you need".

הרצאה שניה:

Speaker: Ran Yacoby, Algorithm Developer at Applied Materials

Title: “Self-supervised learning and anomaly detection in the semiconductor industry.”

Abstract:

“The fabrication of integrated circuits (ICs) in the semiconductor industry is a highly complex process, involving hundreds of steps that gradually grow patterned nano-scale structures on top of silicon wafers. Each of these steps is prone to a variety of defects that can reduce the quality of the IC or ruin it entirely. Properly detecting and classifying such defects is crucial for maintaining the yield of the manufacturing process. The classical approaches for addressing these problems are in the process of being replaced by more powerful deep-learning algorithms. In this talk, I will focus on self-supervised representation learning techniques in the context of unsupervised anomaly detection. Specifically, representations learned through contrastive-learning recently achieved remarkable improvements in semi-supervised classification and object detection tasks, and we will discuss their application to the anomaly detection use-case.”